HC2000 CG04 L
Test probe: high current; 50A; Ø: 4mm; Contacts: beryllium copper
Fabricant: EQUIP-TEST
Marque du fabricant:
HC2000 CG04 L
Référence TME:
HC2000CG04L
Spécification
Fabricant | EQUIP-TEST | |
Type of test probe | high current | |
Courant nominal | 50A | |
Diamètre de la pointe | 4mm | |
Matériau du contact | cuivre en béryllium | |
Forme du bec | tête CG | |
Force d'inclinaison du ressort | 3N ll newton | |
Plaquage du contact | doré | |
Déformation de fonctionnement de ressorts | 4,4mm | |
Déformation max de ressorts | 5,5mm | |
Résistance du contact maxi. | 10mΩ | |
Longueur totale | 38,5mm | |
Raster minimum | 5,08mm | |
Température de travail | -40...250°C |
Poids brut1 g
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* HC2000 CG04 L
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Nombre de pièces (Multiplication: 1)
Prix net pour les quantités de 1 pcs - 16.77 USDPrix brut pour les quantités de 1 pcs - 16.77 USD
Prix net pour les quantités de 10 pcs - 15.73 USDPrix brut pour les quantités de 10 pcs - 15.73 USD