HTT750 RC04 N
Test probe: ICT/FCT; 3÷4A; Ø: 1.2mm; beryllium copper; 1.5N; 20mΩ
Fabricant: EQUIP-TEST
Marque du fabricant:
HTT750 RC04 N
Référence TME:
HTT750RC04N
Spécification
Fabricant | EQUIP-TEST | |
Type of test probe | ICT/FCT | |
Courant nominal | 3...4A | |
Diamètre de la pointe | 1,2mm | |
Matériau du contact | cuivre en béryllium | |
Forme du bec | tête RC | |
Force d'inclinaison du ressort | 1,5N ll newton | |
Plaquage du contact | doré | |
Déformation de fonctionnement de ressorts | 4,3mm | |
Déformation max de ressorts | 5,7mm | |
Résistance du contact maxi. | 20mΩ | |
Longueur totale | 35,9mm | |
Raster minimum | 1,91mm | |
Température de travail | -80...250°C |
Poids brut1 g
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* HTT750 RC04 N
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Nombre de pièces (Multiplication: 1)
Prix net pour les quantités de 1 pcs - 9.17 USDPrix brut pour les quantités de 1 pcs - 9.17 USD
Prix net pour les quantités de 10 pcs - 8.59 USDPrix brut pour les quantités de 10 pcs - 8.59 USD